Service intégré de diffraction des rayons X

Le Service intégré de diffraction des rayons X de l'Université de La Laguna (SIDIX) a pour objectif de soutenir la recherche fondamentale et appliquée dans les différents domaines de la connaissance des sciences géologiques, de la chimie, de la physique, des sciences des matériaux, de la pharmacie, de la biochimie, de l'archéologie, de la paléontologie, de l'anthropologie, des sciences de l'environnement, ainsi que de contribuer à la prestation de services dans les domaines de la construction, du génie civil…

Le service peut prendre en charge diverses activités en fonction des échantillons et des études demandés. Ces activités peuvent inclure :

  • Échantillons polycristallins :
    Identification des différentes phases dans les échantillons, quantification de ces phases à l'aide de différentes techniques (RIR, étalon interne et Rietveld), paramètres de maille, symétrie, détermination structurale, études de température dans une gamme de -173 °C à environ 1200 °C, détermination de la taille des particules à l'aide de la SAXS…
  • Échantillons monocristallins :
    Des études antérieures ont porté sur la symétrie, les paramètres de maille, l'identification de substances connues par comparaison avec les données structurales contenues dans les bases de données (ICSD et CCDC), la collecte de données, l'étude et l'analyse structurales. Des études structurales ont été menées en fonction de la température (de -173 °C à 400 °C).
  • Mesures de fluorescence X :
    Étude de la composition chimique des échantillons en fonction des éléments qu'ils contiennent.

Applications

Les principales applications de ce type d'étude peuvent généralement être regroupées dans les sections suivantes :

  • Détermination de la structure cristalline d'un composé.
  • Étude de la composition chimique des matériaux.
  • Identification et étude des polymorphes à usage pharmaceutique.
  • Identification et étude des transitions cristallines en fonction de la température.
  • Étude des imperfections ou défauts des matériaux (taille des grains des cristaux et orientation préférentielle).

Équipement:

  • Diffractomètre Panalytical X'Pert PRO
  • Diffractomètre PANalytical Empyrean
  • Diffractomètre Oxford Diffraction SuperNova
  • Diffractomètre Rigaku Oxford Diffraction SuperNOVAg
  • Spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie Bruker S2 Puma
  • Analyseur de fluorescence X à dispersion d'énergie portable Niton XL3 T950 (4)

Financement

L'infrastructure nécessaire à ce service a été partiellement financée par le Fonds européen de développement régional (FEDER).

(1) Numéro de projet : UNLL08-3E-002

(2) Numéro de projet : UNLL13-3E-1528

(3) Financé par le Fonds de développement des îles Canaries (FDCAN). Année 2018.

(4) Numéro de projet : UNLL13-3E-2018

Certification de qualité

Ce service a été certifié par AENOR selon la norme ISO 9001:2015. Espagnol | Anglais

Lieu de service : Bâtiment SEGAI Campus Anchieta Avda. Astrophysique Fco. Sánchez s/n 38206
La Laguna – Santa Cruz de Ténérife.

Calendrier: Du lundi au vendredi de 9h00 à 15h00

Téléphone: 922 31 85 97

E-mail: segai.sidix@ull.es