Métrologie des semi-conducteurs utilisant l'imagerie de phase du front d'onde sur des plaquettes de silicium structurées

jeudi 29 octobre 2026 - 11:03 GMT+0000

Auteur:  Don Jan Olaf Gaudestad

Faculté:  Ecole Supérieure d'Ingénierie et de Technologie

Programme doctoral : Ingénierie industrielle, informatique et environnementale

Date et heure : 06/11/2026 00:30

Localisation de la défense : Salle de remise des diplômes, École supérieure d'ingénierie et de technologie (ESIT)

Directeur/res : Dr. D. José Manuel Rodriguez Ramos et Dr. D. José Gil Marichal Hernandez