Semiconductor Metrology using Wave Front Phase Imaging on patterned Silicon Wafers

jueves 29 de octubre de 2026 - 11:03 GMT+0000

Autor/a:  Don Jan Olaf Gaudestad

Facultad:  Escuela Superior de Ingeniería y Tecnología

Programa de Doctorado: Ingeniería Industrial, Informática y Medioambiental

Fecha y hora: 06/11/2026 12:30 am

Lugar de la defensa: Salón de Grados, Escuela Superior de Ingeniería y Tecnología (ESIT)

Director/res: Dr. D. José Manuel Rodríguez Ramos y Dr. D. José Gil Marichal Hernández