Sistema Multitécnicas de Análisis de Superficies

El Análisis de Superficies es una disciplina que involucra múltiples parámetros por lo cual para identificar el estado de la superficie de una muestra sólida requiere la aplicación combinada de varias técnicas.

La función principal del Sistema Multitécnicas de Análisis de Superficies (SMAS) de la ULL es la espectroscopia XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy), que da información sobre la composición química de la superficie de la muestra. Consiste en irradiar la muestra con Rayos X de baja energía y analizar los foto-electrones emitidos. La energía de los mismos es característica del orbital del que proceden, permitiendo identificar los elementos presentes en la superficie, cómo están afectados por el entorno (tipo de enlace, por ejemplo) y estimar la composición relativa de la superficie.

También está dotado con técnicas específicas como UPS (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy) en la que la fuente de excitación es una lámpara de radiación Ultra-Violeta. La técnica UPS se utiliza para estudiar las características de los electrones menos ligados (banda de valencia), y tiene aplicación en el estudio de la pasivación, dopaje y recubrimientos de superficies, sobre todo cuando alguno de sus componentes atómicos puede variar su estado de oxidación en el tiempo.

El sistema cuenta con un cañón de electrones y haciendo uso del analizador de electrones permite realizar AES (Auger Electron Spectroscopy), la cual da información complementaria a la obtenida por XPS de las especies químicas de la superficie y su entorno químico. La fuente de electrones dispone de una sonda de barrido con las prestaciones adecuadas para realizar Microscopía de Electrones Auger (SAM) y de electrones secundarios (SEM).

Una fuente adicional de excitación de la muestra con la que cuenta el sistema es un cañón de iones, que permite realizar la espectroscopía de dispersión de iones ISS (Ion Scattering Spectroscopy). Este cañón tiene una configuración versátil que permite utilizarse también para decapado con fines de limpieza superficial y análisis en profundidad (depth profilling) El sistema cuenta además con cañones complementarios para compensación de carga, que permiten el análisis de muestras no conductoras eléctricas.

Común a todas las técnicas mencionadas de análisis superficial está la necesidad del sistema de trabajar en condiciones de ultra alto vacío (UHV), con presiones menores de 10-9 mbar. La razón radica en la exigencia de no contaminar la superficie a analizar y permitir que las partículas cargadas emitidas por la misma lleguen al analizador.

Aplicaciones

Por las características del equipo, el Servicio está destinado a muestras sólidas, preferentemente no reactivas en condiciones de UHV, tanto conductoras como no conductoras eléctricas. Pueden ser compactas o polvo, con unas dimensiones preferentemente no superiores a 1cm2 y un espesor menor de 2 mm.

El análisis de superficies tiene aplicación en un amplio espectro de materiales, tanto en condiciones originales como degradados:

 

  • Metales
  • Polímeros
  • Semiconductores
  • Cerámicos
  • Materiales de construcción
  • Biomateriales
  • Fibras (papel y plásticos)
  • Minerales
  • Materiales compuestos
  • Bellas Artes-Patrimonio artístico

Equipamiento:

  • Escalab ThermoFisher 250

Certificaciones de calidad

Modelo EFQM de Excelencia Empresarial +400 en todo el SEGAI

  • El SEGAI renueva su compromiso con la calidad obteniendo el sello de Excelencia Europea +400 puntos EFQM otorgado por el Club Excelencia en Gestión. Descargar el certificado (español)

Localización del servicio: Facultad de Química, Planta 0 (Lab. Integrados), Campus Anchieta. Avda Astrofísico Fco. Sánchez s/n 38200. La Laguna- S/C de Tenerife

Horario: Viernes de 9:00 a 15:00

Teléfono: 922 31 65 02 ext. 6176

Correo electrónico: ssmassegai@ull.es